上海泽泉科技股份有限公司
首页 > 产品中心 > 其他 > WinDENDRO年轮分析系统
产品详情
WinDENDRO年轮分析系统
WinDENDRO年轮分析系统的图片
参考报价:
面议
品牌:
关注度:
287
样本:
暂无
型号:
产地:
加拿大
信息完整度:
典型用户:
暂无
索取资料及报价
认证信息
高级会员 第 2
名 称:上海泽泉科技股份有限公司
认 证:工商信息已核实
访问量:81626
手机网站
扫一扫,手机访问更轻松
产品分类
公司品牌
品牌传达企业理念
产品简介
WinDENDRO年轮分析系统

WinDENDRO是利用高质量的图形扫描系统取代传统的摄象机系统。扫描系统能提供高分辨率的彩色图象和黑白图象。采用专门的照明系统去除了阴影和不均匀现象的影响,有效的保证了图象的质量。增大了扫描区域,以供分析。还可以读取TIFF标准格式的图象。

组成:

* WinDENDRO年轮分析软件(基本版 / 标准版 / 专业版)For Win9x,WinMe,Win2000,WinXP

* XLSTEM茎杆分析插件(For MS-EXCEL)可选件

* 专业扫描仪

* 电脑(*低配置:Pentium III / 64 MB内存 / 17"显示器)用户自备

* 生长锥定位工具

技术指标:

特点 WinDENDRO版本
基本版 标准版 专业版
水平、垂直方向测量年轮 Yes Yes Yes
延直线方向测量年轮(单节) Yes Yes Yes
年轮宽度测量 Yes Yes Yes
自动年轮监测方式(强度不同) Yes Yes Yes
通过扫描测量年轮 Yes Yes Yes
判断无效的年轮 Yes Yes Yes
图象对比度增强功能 Yes Yes Yes
彩色和黑白可调 Yes Yes Yes
测量年轮宽度时计算年轮角度 Yes Yes Yes
当样品有缺陷时,估算丢失的年轮 No Yes Yes
以各种方向测量年轮 No Yes Yes
测量复杂形状样品的年轮(多节) No Yes Yes
年轮宽度、十字交叉图象及相关性 No Yes Yes
幼苗宽度测量 No Yes Yes
用户可调节智能幼苗清晰度 No Yes Yes
每环的反射光测量(*小值、**值、平均值、方向) No Yes Yes
基于象素的数据 No Yes Yes
存储年轮宽度以"树心-边缘"/"边缘-树心" Yes/No Yes/Yes Yes/Yes
存储*后部分年轮 No Yes Yes
忽略缺口部分 No Yes Yes
讲述& 演示年轮自动监测算法 No Yes Yes
针对年轮增加注释或观察资料 No Yes Yes
可自定义设置一些参数(例如:名字,类型等) No Yes Yes
可以测量其他设备采集到的图象(如:摄象机等) No Yes Yes
手工测量图象的边材宽度No Yes Yes
年轮密度测量(*小值,**值,平均值,方向) No No Yes

产 地:

Regent 加拿大

  • 推荐产品
  • 供应产品
  • 产品分类
我要咨询关闭
  • 类型:*     
  • 姓名:* 
  • 电话:* 
  • 单位:* 
  • Email: 
  •   留言内容:*
  • 让更多商家关注 发送留言